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프로젝트명 Research on analysis of front-end unit devices and defects using next generation wafer(Completed Project)
발주처명 LG Siltron
기간 2013.06.01 ~ 2014.05.31
첨부파일


“Research on analysis of front-end unit devices and defects using
next generation wafer”

차세대 웨이퍼를 이용한 Front-End단위 소자 특성 결함 분석에 대한 연구

PI: H. Seo, RA: J. Kim/S. Lee
(
LG Siltron/산학과제),
2013. 06. 01 - 2014. 05. 31.


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