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Analysis of Vertical Behavior and Si/VOx Interface Characteristics of Vanadium Oxide Film using E-beam
학술지명 : IUMRS-ICA
게재년월 : 2021.10.04
"Analysis of Vertical Behavior and Si/VOx Interface Characteristics of Vanadium Oxide Film using E-beam"


Hyobin Choi, Wanggon Lee, Jaeseong Lim, Heecheol Shin, and Hyungtak Seo*


2021 IUMRS, ICC Jeju, Jeju Island, Korea, 10월 04일 [Poster]

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